本发明公开了一种先进工艺和低电压下的集成电路统计时序分析方法,通过对先进工艺下集成电路的工艺参数波动情况进行仿真建模,基于低电压下集成电路延时与工艺参数间的关系建立电路时序统计模型,分析集成电路时序波动情况下的最大延时和最小延时。与传统的静态时序分析方法相比,能够更准确的分析工艺参数波动下的电路延时分布情况,对于先进工艺和低电压下集成电路设计具有重要意义。
商品类型 | 专利 | 申请号 | 201910643441.6 | IPC分类号 | |
专利类型 | 发明 | 法律状态 | 有权 | 技术领域 | |
交易方式 | 普通许可 | 专利状态 | 已授权 | 专利权人 |
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